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電橋LCR測(cè)試電容如何選定參數(shù)
點(diǎn)擊次數(shù):2263 更新時(shí)間:2014-01-06
一些元器件的測(cè)試條件是根據(jù)被測(cè)件在電路中的實(shí)際應(yīng)用或者根據(jù)相關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)自己的要求。一般小于100pF電容用高于100K以上的頻率測(cè)量,如安柏的AT2818,國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試中等電容的測(cè)試頻率標(biāo)準(zhǔn)是1KHZ。電解類如鋁電解,鉭電解等用100HZ或120HZ。大部分電容對(duì)電壓(電平)不敏感,不同電平測(cè)試變化不大,但有些介電常數(shù)大的電容與電平非常敏感,選擇電平要仔細(xì)。
任何一個(gè)被測(cè)器件都可以等效為一個(gè)串聯(lián)電路或并聯(lián)電路. 串聯(lián)電阻Rs為串聯(lián)等效電路中的電阻部分,Rs也叫ESR. 并聯(lián)電阻Rp為并聯(lián)等效電路中的電阻部分,Rp也叫EPR,實(shí)際中若頻率升高而損耗增加,則應(yīng)選用串聯(lián)等效電路,若頻率升高而損耗減小,則應(yīng)選用并聯(lián)等效電路,還有測(cè)試前一定要進(jìn)行合理的清零